ГОСТ Р 57394-2017. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Вид документа	ГОСТ
Статус	Действует
Документ принят организацией
Документ внесен организацией
Разработчик документа	Акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт»); Федеральное государственное унитарное предприятие «Мытищинский научно-исследовательский институт радиоизмерительных приборов» (ФГУП «МНИИРИП»); Акционерное общество «Центральное конструкторское бюро «ЦКБ «Дейтон» (АО «ЦКБ «Дейтон»); Акционерное общество «Росэлектроника» (АО «Росэлектроника»)
Дата принятия в МГС
Дата начала действия	2018-01-01
Дата последней редакции	2017-04-17
Страны действия
Где применяется	Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Код ОСК	31.080.01;31.200

На данной странице вы можете приобрести ГОСТ на тему "ГОСТ Р 57394-2017. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность". ГОСТ был принят в МГС и начал действовать 2018-01-01. Дата последнего издания 2017-04-17. На данный момент документ принят в следующих странах: .