ГОСТ Р МЭК 60793-1-54-2015. Волокна оптические. Часть 1-54. Методы измерений и проведение испытаний. Гамма-излучение
Краткая информация о документе
| Вид документа |
ГОСТ |
| Статус |
Действует |
| Документ принят организацией |
|
| Документ внесен организацией |
|
| Разработчик документа |
Открытое акционерное общество «Всероссийский научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт кабельной промышленности (ОАО «ВНИИКП») |
| Дата принятия в МГС |
|
| Дата начала действия |
2016-07-01 |
| Дата последней редакции |
2020-06-07 |
| Страны действия |
|
| Где применяется |
Настоящий стандарт устанавливает метод определения характеристик выходного сигнала (в установившемся режиме) оптических волокон (далее - ОВ) и оптических кабелей (далее - ОК), подвергаемых воздействию гамма-излучения. Его можно применять для определения уровня затухания сигнала, вызываемого радиацией, в одномодовых ОВ класса В или многомодовых ОВ класса А, категорий А1 и А2, в составе ОК или отдельных. Затухание в ОВ, в составе ОК или отдельных, обычно возрастает при воздействии гамма-излучения. Это происходит главным образом вследствие захвата радиолитических электронов и дырок в местах дефектов в стекле (то есть вследствие образования «цветных центров»). Данный метод предусматривает два режима, представляющих интерес: режим низкой мощности дозы излучения для оценки влияния фонового излучения и режим высокой мощности дозы излучения для оценки влияния неблагоприятной радиационной обстановки. Испытание для оценки влияния фонового излучения окружающей среды проводят с использованием метода измерения затухания, сходного с методом обрыва по МЭК 60793-1-40 (метод А). Влияние неблагоприятной радиационной обстановки определяют путем мониторинга мощности до, во время и после воздействия гамма-излучения на испытуемый образец. Уменьшение числа цветных центров вследствие воздействия света (фотобличинг) или тепла вызывает восстановление (уменьшение затухания, вызванного облучением). Восстановление может происходить на протяжении широкого диапазона времени, которое зависит от времени светового облучения и температуры отжига. Это усложняет процесс определения затухания, вызываемого излучением, поскольку затухание зависит от многих переменных, включая температуру среды, в которой проводят испытание, конфигурацию образца, общую дозу и мощность дозы излучения, воздействующего на образец, и уровень освещенности, используемый для измерения затухания. Данное испытание не является испытанием для материалов неоптических элементов ОК. Если необходимо изучить процесс деградации материалов ОК, подверженных облучению, то потребуются другие методы испытания. Данный метод испытания представляет собой четкий и краткий перечень инструкций. Справочная информация, необходимая для проведения надлежащих испытаний по облучению, так же как и границы неопределенности измерений, указана отдельно в МЭК/ТО 62283. Следует обратить внимание на то, что для проведения данного испытания в лаборатории должны быть приняты строгие правила и соответствующие защитные меры. К проведению данного испытания следует допускать тщательно подобранный подготовленный персонал. Для персонала может быть крайне рискованным проводить испытание ненадлежащим образом и в несоответствующих условиях |
| Код ОСК |
33.180.10 |
На данной странице вы можете ознакомиться и приобрести ГОСТ на тему "ГОСТ Р МЭК 60793-1-54-2015. Волокна оптические. Часть 1-54. Методы измерений и проведение испытаний. Гамма-излучение". Документ был принят в МГС и начал действовать 2016-07-01. Дата последнего издания 2020-06-07. На данный момент документ принят в следующих странах: .
ГОСТы которые могут вас заинтересовать
Список ГОСТов
ГОСТ IEC 60331-25-2011. Испытания электрических и ...
ГОСТ Р 52266-2020. Кабели оптические. Общие технич...
ГОСТ Р 57139-2016. Кабели оптические. Термины и оп...
ГОСТ Р МЭК 794-1-93. Кабели оптические. Общие техн...
ГОСТ Р МЭК 60793-1-1-2018. Волокна оптические. Час...
ГОСТ Р МЭК 60793-1-20-2012. Волокна оптические. Ча...
ГОСТ Р МЭК 60793-1-21-2012. Волокна оптические. Ча...
ГОСТ Р МЭК 60793-1-22-2012. Волокна оптические. Ча...
