ГОСТ 8.593-2009. Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Вид документа	ГОСТ
Статус	Действует
Документ принят организацией	Межгосударственный Совет по стандартизации метрологии и сертификации
Документ внесен организацией	Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Разработчик документа	Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (Россия); Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт» (Россия); Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия)
Дата принятия в МГС	2009-11-11
Дата начала действия	2010-11-01
Дата последней редакции	2019-12-09
Страны действия	Республика Армения;Республика Беларусь;Республика Казахстан;Кыргызская Республика;Республика Молдова;Российская Федерация;Республика Таджикистан;Республика Узбекистан;Украина
Где применяется	Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592
Код ОСК	17.040.01

На этой web странице вы можете ознакомиться и приобрести ГОСТ на тему "ГОСТ 8.593-2009. Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки". Документ был принят в МГС 2009-11-11 и начал действовать 2010-11-01. Дата последнего внесения изменений 2019-12-09. На данный момент ГОСТ действует в следующих странах: Республика Армения;Республика Беларусь;Республика Казахстан;Кыргызская Республика;Республика Молдова;Российская Федерация;Республика Таджикистан;Республика Узбекистан;Украина.