ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Вид документа	ГОСТ
Статус	Действует
Документ принят организацией
Документ внесен организацией
Разработчик документа	Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)»
Дата принятия в МГС
Дата начала действия	2010-09-01
Дата последней редакции	2019-04-01
Страны действия
Где применяется	Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
Код ОСК	17.040.01

На этой странице у вас есть возможность ознакомиться и приобрести ГОСТ на тему "ГОСТ Р 8.697-2010. Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа". Документ был принят в МГС и начал действовать 2010-09-01. Дата последнего издания 2019-04-01. На данный момент ГОСТ действует в следующих странах: .